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Franz J. Giessibl

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Exposés (1)  Titre        Date 
photoExpose
Atomic force microscopy provides new vistas for nano- and picoscience
Franz J. Giessibl
10/06/2016
Conférence de Franz J. Giessibl organisée par le département de Physique. Atomic force microscopy (AFM) and scanning tunneling microscopy (STM) image surfaces with atomic resolution enable local spectroscopies such as of current versus voltage and f...
Catégories : Colloquium / Séminaire général du département de physique
Mots-clefs: Nanoscience, microscope à force atomique


Auteurs (1)